Le Deep Learning accessible et facile à utiliser avec l’outil de détection des anomalies de SICK.

Compatible avec toute la gamme de capteurs de vision 2D InspectorP6xx, il permet aux utilisateurs de maîtriser facilement les applications … Plus

« Intelligence Inspection » de SICK rend le Deep Learning accessible.

Cette application conçue pour la famille des capteurs de vision 2D InspectorP6xx facilite les tâches complexes de tri et de … Plus